Ujian Kebolehpercayaan Biasa Dan Keadaan Ujiannya.

Secara umumnya, ujian yang dijalankan untuk menilai dan menganalisis kebolehpercayaan produk elektronik dipanggil ujian kebolehpercayaan. Untuk meramalkan kualiti produk dari masa ia meninggalkan kilang hingga akhir hayat perkhidmatannya, selepas memilih tekanan alam sekitar yang sangat serupa dengan persekitaran pasaran, Tujuan utama menetapkan tahap tekanan alam sekitar dan masa penggunaan adalah untuk menilai dengan betul kebolehpercayaan produk dalam masa yang sesingkat mungkin.

Ujian kebolehpercayaan adalah untuk menentukan sama ada produk yang telah lulus ujian kelayakan kebolehpercayaan dan dipindahkan ke pengeluaran besar-besaran memenuhi keperluan kebolehpercayaan yang ditentukan di bawah syarat yang ditetapkan, dan untuk mengesahkan sama ada kebolehpercayaan produk berubah dengan proses, perkakas, aliran kerja, dan bahagian semasa pengeluaran besar-besaran. Berkurangan kerana perubahan kualiti dan faktor lain. Hanya melalui ini prestasi produk boleh dipercayai dan kualiti produk menjadi cemerlang.

Klasifikasi ujian kebolehpercayaan produk elektronik

01. Ujian alam sekitar

Sesetengah monograf kebolehpercayaan meletakkan sampel dalam persekitaran penyimpanan, pengangkutan dan kerja yang disimulasikan semula jadi atau buatan, secara kolektif dirujuk sebagai ujian alam sekitar. Ia digunakan untuk menilai prestasi produk dalam pelbagai persekitaran (getaran, kejutan, sentrifugasi, suhu, kejutan haba, kilat panas, Keupayaan untuk menyesuaikan diri dengan keadaan seperti semburan garam, tekanan udara rendah, dll. adalah salah satu ujian penting. kaedah untuk menilai kebolehpercayaan produk. Secara amnya, terdapat terutamanya jenis berikut:

(1) Kestabilan baking, iaitu, ujian penyimpanan suhu tinggi

Tujuan ujian: Untuk menilai kesan penyimpanan suhu tinggi pada produk tanpa menggunakan tekanan elektrik. Produk dengan kecacatan yang serius berada dalam keadaan tidak seimbang, iaitu keadaan tidak stabil. Proses peralihan daripada keadaan bukan keseimbangan kepada keadaan keseimbangan bukan sahaja proses yang mendorong kegagalan produk dengan kecacatan yang serius, tetapi juga proses peralihan yang menggalakkan produk daripada keadaan tidak stabil kepada keadaan stabil. .

Peralihan ini secara amnya ialah perubahan fizikal dan kimia, dan kadarnya mengikut formula Arrhenius dan meningkat secara eksponen dengan suhu. Tujuan tegasan suhu tinggi adalah untuk memendekkan masa perubahan ini. Oleh itu, eksperimen ini boleh dianggap sebagai proses untuk menstabilkan prestasi produk.

Keadaan ujian: Secara amnya, tekanan suhu malar dan masa penahanan dipilih. Julat tekanan suhu litar mikro ialah 75 darjah hingga 400 darjah, dan masa ujian adalah lebih daripada 24 jam. Sebelum dan selepas ujian, sampel yang akan diuji mesti diletakkan untuk tempoh masa tertentu dalam persekitaran ujian standard, dengan suhu 25 ± 10 darjah dan tekanan udara 86 kPa ~ 100 kPa. Dalam kebanyakan kes, ujian titik akhir perlu diselesaikan dalam masa yang ditetapkan selepas ujian.

(2) Ujian kitaran suhu

Tujuan ujian: Untuk menilai keupayaan produk untuk menahan kadar perubahan suhu tertentu dan keupayaannya untuk menahan suhu tinggi yang melampau dan persekitaran suhu rendah yang melampau. Ia ditetapkan berdasarkan sifat termomekanik produk. Apabila bahan yang membentuk komponen produk mempunyai padanan haba yang lemah, atau tekanan dalaman komponen adalah besar, ujian kitaran suhu boleh menyebabkan kegagalan produk yang disebabkan oleh kemerosotan kecacatan struktur mekanikal. Seperti kebocoran udara, pecah plumbum dalam, retak cip, dll.

Keadaan ujian: Dijalankan dalam persekitaran gas. Ia terutamanya mengawal suhu dan masa apabila produk berada pada suhu tinggi dan rendah dan kadar penukaran keadaan suhu tinggi dan rendah. Peredaran gas dalam ruang ujian, kedudukan penderia suhu, dan kapasiti haba lekapan adalah semua faktor penting untuk memastikan keadaan ujian.

Prinsip kawalan ialah suhu, masa dan kadar penukaran yang diperlukan oleh ujian merujuk kepada produk yang diuji, bukan persekitaran tempatan ujian. Masa pensuisan litar mikro diperlukan tidak lebih daripada 1 minit, dan masa penahanan pada suhu tinggi atau rendah tidak kurang daripada 10 minit; suhu rendah ialah -55 darjah atau -65-10 darjah , dan suhu tinggi berjulat dari 85+10 darjah hingga 300+10 darjah .

(3) Ujian kejutan terma

Tujuan ujian: Untuk menilai keupayaan produk untuk menahan perubahan suhu yang drastik, iaitu, untuk menahan kadar perubahan suhu yang besar. Ujian boleh menyebabkan kegagalan produk yang disebabkan oleh kecacatan struktur mekanikal dan kemerosotan. Tujuan ujian kejutan haba dan ujian kitaran suhu pada asasnya adalah sama, tetapi syarat ujian kejutan haba adalah lebih teruk daripada ujian kitaran suhu.

(4) Ujian tekanan rendah

Tujuan ujian: Untuk menilai kebolehsuaian produk kepada persekitaran kerja tekanan rendah (seperti persekitaran kerja altitud tinggi). Apabila tekanan udara berkurangan, kekuatan penebat udara atau bahan penebat akan menjadi lemah; pelepasan korona, peningkatan kehilangan dielektrik, dan pengionan akan mudah berlaku; penurunan tekanan udara akan memburukkan keadaan pelesapan haba dan meningkatkan suhu komponen. Faktor-faktor ini akan menyebabkan sampel ujian kehilangan fungsi yang ditentukan dalam keadaan tekanan rendah, dan kadangkala menyebabkan kerosakan kekal.

Keadaan ujian: Sampel yang akan diuji diletakkan di dalam ruang tertutup, voltan yang ditentukan digunakan dan suhu sampel perlu dikekalkan dalam julat {{0}}.0 darjah dari 20 minit sebelum tekanan dikurangkan dalam ruang tertutup sehingga akhir ujian. Ruang tertutup dikurangkan daripada tekanan biasa kepada tekanan udara yang ditentukan dan kemudian dikembalikan kepada tekanan normal, dan semasa proses ini ia dipantau sama ada sampel ujian boleh berfungsi dengan normal. Kekerapan voltan yang digunakan pada sampel ujian litar mikro adalah dalam julat dari DC hingga 20MHz. Kejadian pelepasan korona pada terminal voltan dianggap sebagai kegagalan. Nilai tekanan rendah ujian sepadan dengan ketinggian dan dibahagikan kepada beberapa peringkat. Sebagai contoh, nilai tekanan udara tahap A bagi ujian tekanan rendah litar mikro ialah 58kPa, dan ketinggian yang sepadan ialah 4572m. Nilai tekanan udara E-level ialah 1.1kPa, dan ketinggian yang sepadan ialah 30480m, dsb.

(5) Ujian rintangan kelembapan

Tujuan ujian: Untuk menilai keupayaan litar mikro untuk menahan pereputan di bawah keadaan lembap dan panas dengan menggunakan tegasan dipercepat. Ia direka untuk persekitaran iklim tropika biasa. Mekanisme utama pereputan litar mikro dalam keadaan lembap dan panas adalah kakisan yang disebabkan oleh proses kimia dan proses fizikal yang disebabkan oleh rendaman, pemeluwapan, dan pembekuan wap air yang menyebabkan pertumbuhan retakan mikro. Ujian ini juga mengkaji kemungkinan elektrolisis berlaku atau memburukkan lagi elektrolisis dalam bahan yang membentuk litar mikro di bawah keadaan lembap dan panas. Elektrolisis akan mengubah rintangan bahan penebat dan melemahkan keupayaannya untuk menahan kerosakan dielektrik.

Keadaan ujian: Terdapat dua jenis ujian kilat panas, iaitu ujian kilat panas berubah-ubah dan ujian kilat panas malar. Ujian kilat panas memerlukan sampel yang diuji berada dalam julat kelembapan relatif 90% hingga 100%. Ia mengambil tempoh masa tertentu (biasanya 2.5j) untuk menaikkan suhu daripada 25 darjah kepada 65 darjah dan mengekalkannya selama lebih daripada 3j; dan sekali lagi Dalam julat kelembapan relatif 80% hingga 100%, gunakan tempoh masa tertentu (biasanya 2.5 jam) untuk menurunkan suhu daripada 6s darjah kepada 25 darjah . Selepas satu lagi kitaran sedemikian, turunkan suhu pada sebarang kelembapan. kepada -10 darjah , dan simpan selama lebih daripada 3 jam sebelum kembali ke keadaan di mana suhu ialah 25 darjah dan kelembapan relatif adalah sama dengan atau lebih daripada 80%. Ini melengkapkan kitaran perubahan darah kepada kilat panas, yang mengambil masa kira-kira 24 jam.

Secara amnya, untuk ujian rintangan kelembapan, kitaran besar kilat panas berselang-seli yang disebutkan di atas perlu dijalankan 10 kali. Semasa ujian, voltan tertentu dikenakan pada sampel yang diuji. Isipadu pertukaran udara seminit dalam ruang ujian dikehendaki lebih besar daripada 5 kali ganda isipadu ruang ujian. Sampel yang akan diuji hendaklah yang telah menjalani ujian keketatan plumbum yang tidak merosakkan.

(6) Ujian semburan garam

Tujuan ujian: Gunakan kaedah dipercepatkan untuk menilai rintangan kakisan bahagian komponen terdedah di bawah semburan garam, kelembapan dan keadaan panas. Ia direka untuk persekitaran pantai tropika atau iklim luar pesisir. Komponen dengan struktur permukaan yang lemah akan menghakis bahagian yang terdedah di bawah semburan garam, keadaan lembap dan panas.

Keadaan ujian: Ujian semburan garam memerlukan bahagian sampel ujian yang terdedah dalam arah yang berbeza mestilah di bawah keadaan yang ditetapkan yang sama dari segi suhu, kelembapan dan kadar pemendapan garam yang diterima. Keperluan ini dipenuhi dengan jarak minimum antara sampel yang diletakkan di dalam ruang ujian dan sudut di mana sampel diletakkan.

Suhu ujian: Keperluan am ialah (35+-3)'C, dan kadar pemendapan garam dalam masa 24 jam ialah 2X104mg/m2~5X104mg/m2. Kadar pemendapan garam dan kelembapan ditentukan oleh suhu dan kepekatan larutan garam yang menghasilkan semburan garam dan aliran udara yang mengalir melaluinya. Kadar oksigen dan nitrogen dalam aliran udara hendaklah sama dengan kadar udara.

Masa ujian: secara amnya dibahagikan kepada 24j, 48j, 96j dan 240j.

(7) Ujian penyinaran

Tujuan ujian: Untuk menilai keupayaan kerja litar mikro dalam persekitaran penyinaran zarah tenaga tinggi. Kemasukan zarah tenaga tinggi ke dalam litar mikro akan menyebabkan perubahan pada struktur mikro untuk menghasilkan kecacatan atau menghasilkan cas atau arus tambahan. Ini mengakibatkan kemerosotan parameter litar mikro, penguncian, litar terbalik atau arus lonjakan yang menyebabkan keletihan dan kegagalan. Penyinaran melebihi had tertentu boleh menyebabkan kerosakan kekal pada litar mikro.

Keadaan ujian: Ujian penyinaran litar mikro terutamanya termasuk penyinaran neutron dan penyinaran sinar gamma. Ia dibahagikan lagi kepada ujian penyinaran jumlah dos dan ujian penyinaran kadar dos. Penyinaran kadar dos menguji semua litar mikro ujian penyinaran dalam bentuk denyutan. Dalam ujian, rentetan dos dan jumlah dos penyinaran mesti dikawal ketat berdasarkan litar mikro yang berbeza dan tujuan ujian yang berbeza. Jika tidak, sampel akan rosak akibat penyinaran melebihi had atau nilai ambang yang dicari tidak akan diperolehi. Ujian sinaran mesti mempunyai langkah keselamatan untuk mengelakkan kecederaan manusia.

02.Ujian hidup
Ujian hayat adalah salah satu perkara yang paling penting dan asas dalam ujian kebolehpercayaan. Ia meletakkan produk di bawah keadaan ujian tertentu untuk memeriksa perubahan kegagalannya (kerosakan) mengikut masa. Melalui ujian hayat, kita boleh memahami ciri hayat produk, corak kegagalan, kadar kegagalan, jangka hayat purata, dan pelbagai mod kegagalan yang mungkin berlaku semasa ujian hayat. Jika digabungkan dengan analisis kegagalan, mekanisme kegagalan utama yang membawa kepada kegagalan produk boleh diperjelaskan dengan lebih lanjut, yang boleh menjadi asas untuk reka bentuk kebolehpercayaan, ramalan kebolehpercayaan, peningkatan kualiti produk baharu, dan penentuan pemeriksaan munasabah dan ujian rutin (jaminan kelompok) syarat.
Jika untuk memendekkan masa ujian, ujian boleh dijalankan dengan meningkatkan tekanan tanpa mengubah mekanisme kegagalan, ini adalah ujian hayat dipercepatkan. Tahap kebolehpercayaan produk boleh dinilai melalui ujian hayat, dan tahap kebolehpercayaan produk baharu boleh dipertingkatkan melalui maklum balas yang berkualiti.
Tujuan ujian hayat: Untuk menilai kualiti dan kebolehpercayaan produk dalam keadaan tertentu dan sepanjang masa bekerja. Untuk menjadikan keputusan ujian lebih mewakili, bilangan sampel yang diuji mestilah mencukupi.
Keadaan ujian: Ujian hayat litar mikro dibahagikan kepada ujian hayat keadaan mantap, ujian hayat terputus-putus dan ujian hayat simulasi.
Ujian hayat keadaan mantap ialah ujian yang mesti dilakukan pada litar mikro. Semasa ujian, sampel yang diuji perlu dibekalkan dengan kuasa yang sesuai untuk memastikannya dalam keadaan berfungsi normal. Suhu persekitaran ujian hidup keadaan mantap standard tentera kebangsaan ialah 125C dan masanya ialah 1000j. Ujian dipercepatkan boleh meningkatkan suhu dan memendekkan masa.
Suhu kes litar mikro kuasa biasanya lebih tinggi daripada suhu ambien. Semasa ujian, suhu ambien boleh disimpan lebih rendah daripada 125 darjah . Suhu ambien atau suhu kes ujian hayat keadaan mantap litar mikro hendaklah berdasarkan suhu simpang litar mikro yang sama dengan suhu simpang terkadar.
Ujian hayat terputus-putus memerlukan pemotongan litar mikro yang diuji pada frekuensi tertentu atau secara tiba-tiba menggunakan voltan dan isyarat pincang. Keadaan ujian lain adalah sama dengan ujian hayat keadaan mantap.
Ujian hayat simulasi ialah ujian gabungan yang menyerupai persekitaran aplikasi litar. Tegasan gabungannya termasuk empat ujian tekanan mekanikal, kelembapan dan tekanan rendah: mekanikal, suhu, kelembapan dan empat ujian tekanan elektrik, dsb.

03.Ujian saringan
Ujian saringan ialah ujian tidak merosakkan yang memeriksa produk sepenuhnya. Tujuannya adalah untuk memilih produk dengan ciri-ciri tertentu atau untuk menghapuskan produk yang gagal awal, untuk meningkatkan kebolehpercayaan produk. Semasa proses pembuatan produk, disebabkan oleh kecacatan material atau proses luar kawalan, apa yang dipanggil kecacatan atau kegagalan awal berlaku dalam sesetengah produk. Jika kecacatan atau kegagalan ini dapat dihapuskan lebih awal, tahap kebolehpercayaan produk boleh dijamin dalam penggunaan sebenar.
Ciri-ciri Ujian Saringan Kebolehpercayaan:
1. Ujian jenis ini bukan persampelan, tetapi ujian 100%;
2. Ujian ini boleh meningkatkan tahap kebolehpercayaan keseluruhan produk yang layak, tetapi ia tidak dapat meningkatkan kebolehpercayaan sedia ada produk, iaitu, ia tidak dapat meningkatkan hayat setiap produk;
3. Kesan saringan tidak boleh dinilai hanya dengan kadar penyingkiran saringan. Kadar penyingkiran yang tinggi mungkin disebabkan oleh kecacatan serius pada reka bentuk, komponen, proses, dsb. produk itu sendiri, tetapi ia juga mungkin disebabkan oleh keamatan tekanan saringan yang terlalu tinggi.
Kadar penyingkiran yang rendah mungkin disebabkan oleh sedikit kecacatan produk, tetapi ia juga mungkin disebabkan oleh keamatan tekanan saringan dan masa ujian yang tidak mencukupi. Kualiti kaedah saringan biasanya dinilai oleh kadar penghapusan saringan Q dan kesan saringan nilai B: kaedah saringan yang munasabah harus mempunyai nilai B yang besar dan nilai Q sederhana.

04Ujian penggunaan lapangan
Pelbagai ujian di atas telah dijalankan dengan mensimulasikan keadaan lapangan. Disebabkan oleh pengehadan keadaan peralatan, ujian simulasi selalunya hanya boleh menggunakan tekanan tunggal pada produk, dan kadangkala tegasan dwi boleh digunakan. Ini sangat berbeza daripada keadaan persekitaran penggunaan sebenar, dan oleh itu gagal mendedahkan kualiti produk secara jujur ​​dan menyeluruh. Ujian penggunaan lapangan adalah berbeza kerana ia dijalankan di tapak penggunaan, jadi ia boleh benar-benar mencerminkan kebolehpercayaan produk. Data yang diperoleh adalah bernilai tinggi untuk ramalan kebolehpercayaan produk, reka bentuk dan jaminan. Ujian penggunaan lapangan memainkan peranan yang lebih besar dalam merumuskan rancangan ujian kebolehpercayaan, mengesahkan kaedah ujian kebolehpercayaan dan menilai ketepatan ujian.

05 Ujian pengenalan
Ujian kelayakan ialah ujian yang dilakukan untuk menilai tahap kebolehpercayaan sesuatu produk. Ia adalah pelan persampelan yang dibangunkan berdasarkan teori persampelan. Ujian kelayakan dijalankan di bawah syarat yang memastikan pengeluar tidak menyebabkan produk yang memenuhi piawaian kualiti ditolak.
Ujian kelayakan kebolehpercayaan terbahagi kepada dua kategori: satu ialah ujian kelayakan kebolehpercayaan produk, dan satu lagi ialah ujian kelayakan kebolehpercayaan proses (termasuk bahan).
Ujian kelayakan kebolehpercayaan produk biasanya dijalankan apabila reka bentuk dan pengeluaran produk baharu dimuktamadkan. Tujuannya adalah untuk menilai sama ada penunjuk produk memenuhi sepenuhnya keperluan reka bentuk dan untuk menilai sama ada produk memenuhi keperluan kebolehpercayaan yang telah ditetapkan. Kandungan ujian secara amnya konsisten dengan pemeriksaan ketekalan kualiti. Kesemua empat kumpulan ujian A, B, C dan D dilakukan, dan produk dengan keperluan keamatan rintangan sinaran juga diperlukan untuk menjalani ujian kumpulan E. Ujian kelayakan kebolehpercayaan juga diperlukan apabila terdapat perubahan ketara dalam reka bentuk, struktur, bahan atau proses produk.
Ujian kelayakan kebolehpercayaan proses (termasuk bahan) digunakan untuk menilai sama ada pemilihan barisan pengeluaran dan keupayaan mengawal bahan dan proses dapat memastikan kualiti dan kebolehpercayaan produk yang dikilang, dan sama ada ia boleh memenuhi keperluan tahap jaminan kualiti tertentu. .

06. Lain-lain
(1)Ujian pecutan berterusan
Tujuan ujian ini adalah untuk menilai keupayaan litar untuk menahan pecutan malar. Ia boleh mendedahkan kegagalan yang disebabkan oleh kekuatan struktur litar mikro yang rendah dan kecacatan mekanikal. Seperti cip jatuh, litar terbuka plumbum dalam, ubah bentuk cangkang tiub, kebocoran udara, dll.
Keadaan ujian: Pecutan berterusan yang lebih besar daripada 1mm digunakan dalam arah penyingkiran cip litar mikro, arah mampatan dan arah berserenjang dengan arah ini. Julat nilai pecutan biasanya antara 49000m/s:-1225000m/sV5 000~125000z). Semasa ujian, perumah litar mikro hendaklah dipasang dengan tegar pada pemecut malar.
(2) Ujian kesan mekanikal
Tujuan ujian ini adalah untuk menilai keupayaan litar mikro untuk menahan kejutan mekanikal. Iaitu, keupayaan litar mikro untuk menahan daya secara tiba-tiba dinilai. Litar mikro mungkin tiba-tiba tertekan semasa pemuatan, pemunggahan, pengangkutan dan kerja di tapak. Sebagai contoh, litar mikro akan tertakluk kepada tekanan mekanikal secara tiba-tiba apabila terjatuh atau terlanggar. Tegasan ini boleh menyebabkan cip litar mikro tertanggal, petunjuk dalaman terbuka, cangkang tiub berubah bentuk, kebocoran udara dan kegagalan lain.
Keadaan ujian: Semasa ujian, cangkerang litar mikro hendaklah dipasang dengan tegar pada pangkalan bangku ujian, dan petunjuk luar harus dilindungi. Lima denyutan kejutan mekanikal gelombang separuh sinus digunakan pada setiap arah pancaran cip litar mikro, arah menekan dan arah yang berserenjang dengan arah ini. Julat nilai pecutan puncak denyut hentaman secara amnya ialah 4900m/s2~294 000m/s2 (500g~30000g). Tempoh nadi ialah 0.1ms-1.0ms, dan herotan yang dibenarkan tidak melebihi 20% daripada pecutan puncak.
(3) Ujian getaran mekanikal
Terdapat empat jenis ujian getaran utama iaitu ujian getaran frekuensi sapuan, ujian kelesuan getaran, ujian hingar getaran dan ujian getaran rawak. Tujuannya adalah untuk menilai kekukuhan struktur dan kestabilan ciri elektrik litar mikro di bawah keadaan getaran yang berbeza.
Ujian getaran sapu frekuensi menyebabkan litar mikro bergetar dengan amplitud malar, dan nilai puncak pecutannya secara amnya dibahagikan kepada tiga tahap: 196 m/s: (20e), 490m/s2 (50g) dan 686m/s2 (70g). Kekerapan getaran berubah mengikut masa dalam julat 20Hz hingga 2000Hz. Masa yang diperlukan untuk kekerapan getaran berubah daripada 20Hz kepada 2 000HZ dan kembali kepada 20Hz adalah tidak kurang daripada 4mm dan ia mesti dilakukan lima kali dalam tiga arah yang saling berserenjang (satu daripadanya berserenjang dengan cip) .
Ujian kelesuan getaran juga memerlukan litar mikro bergetar dengan amplitud malar, tetapi frekuensi getarannya tetap, umumnya berpuluh-puluh hingga ratusan Hz, dan puncak pecutannya secara amnya dibahagikan kepada 196ms2 (20g), 490m/s2 (50g) dan 686ms2 ( 70g) Gear ketiga. Lakukan ini sekali dalam setiap tiga arah yang berserenjang antara satu sama lain (satu arah berserenjang dengan cip), dan masa untuk setiap masa adalah lebih kurang 32 jam.
Keadaan ujian ujian getaran rawak adalah untuk mensimulasikan getaran yang mungkin berlaku dalam pelbagai persekitaran medan moden. Amplitud getaran rawak mempunyai taburan Gaussian. Hubungan antara ketumpatan spektrum pecutan dan kekerapan adalah khusus. Julat frekuensi adalah dari puluhan hingga 2000HZ.
Keadaan ujian ujian getaran dan hingar pada asasnya adalah sama dengan keadaan ujian getaran menyapu. Apabila litar mikro dibuat untuk bergetar dengan amplitud malar, nilai puncak pecutannya biasanya tidak kurang daripada 196m/s2 (20g). Kekerapan getaran berubah secara logaritma dengan masa dalam julat 20HZ hingga 2000Hz. Masa yang diperlukan untuk frekuensi getaran berubah dari 20HZ ke 2000Hz dan kembali ke 20HZ adalah tidak kurang daripada 4 minit, dan ia perlu dilakukan sekali dalam tiga arah saling berserenjang (salah satunya adalah berserenjang dengan cip).
Tetapi litar mikro mesti menggunakan voltan dan arus tertentu. Ukur sama ada voltan keluaran hingar maksimum pada rintangan beban yang ditentukan melebihi nilai yang ditentukan semasa ujian.